atomki-hslab-logo-nomtaatomki-hslab-logo-nomtaatomki-hslab-logo-nomtaatomki-hslab-logo-nomta
  • Kezdőlap
  • Laboratórium
    • Atommagkutató Intézet
      • Az ATOMKI-ról
      • ATOMKI Virtuális LAB
    • Rólunk
      • Ionnyaláb-analitikai csoport
    • Örökségtudomány
    • H2020 IPERION CH
    • Infrastruktúra
      • Digitális 3D mikroszkóp
      • SEM-Raman mikroszkóp
      • Mikro-XRF berendezés
    • Együttműködéseink
    • Munkatársak
    • Digitalizáció
    • Médiatár
    • Publikáció
      • Folyóirat publikáció
      • Szakmai előadás
      • Ismeretterjesztő előadás
      • Diplomamunkák, szak- és TDK-dolgozatok
      • Poszter
    • Kapcsolat
  • Események
  • GINOP
    • Projektleírás
    • Célkitűzéseink
    • Nyilvánosság
      • Kommunikációs terv
      • Sajtóközlemények
      • Tájékoztató táblák
      • Roll-up-ok
      • Eredmény kommunikációs kiadványok
      • Fotódokumentáció
    • Közbeszerzés
      • Közbeszerzési eljárás műszaki leírása
    • Atomki GINOP projektek
  • English
✕

Kézi és asztali XRF készülékek analitikai teljesítményének szisztematikus vizsgálata

SZAKMAI ELŐADÁS

Előadók: Csepregi Ákos, Döncző Boglárka, Kertész Zsófia, Szikszai Zita
Kézi és asztali XRF készülékek analitikai teljesítményének szisztematikus vizsgálata

Esemény megnevezése: Mobil eszközök az archeometriai kutatásokban – Archeometriai Műhely vitaülés

Időpont: 2020 február 24.

Helyszín: Magyar Nemzeti Múzeum

Összefoglaló:

A röntgenfluoreszcencia-analízis (XRF) egy gyors, sokelemes analitikai módszer, amelyet széles körben alkalmaznak kulturális és természeti örökségünk tárgyainak vizsgálatára. A módszer roncsolásmentes, kontaktmentes, viszont információs mélysége limitált, így elsősorban a minta felületéről ad információt. Analitikai teljesítményét a módszer alapjául szolgáló fizikai folyamatok, a készülék paraméterei, a mérések kiértékelésének módja, illetve a minta tulajdonságai befolyásolják.

Az Atommagkutató Intézetben korábban sok éven át végeztek XRF vizsgálatokat múzeumi tárgyakon, később a saját mérőelrendezésen alapuló technika hátrébb szorult.  A kereskedelmi forgalomban kapható készülékek fejlődése és térnyerése miatt időszerűvé vált, hogy az intézet Örökségtudományi Laboratóriumában a részecske indukált röntgen-emisszió (PIXE) mellett a minták XRF-fel történő vizsgálatára is legyen lehetőség. Laborunk asztali mikro-XRF (M4 TORNADO, Bruker Nano GmbH, Berlin, Németország), valamint kézi XRF (S1 TITAN 600, Bruker Nano GmbH, Berlin, Németország) készülékekkel rendelkezik.

Az asztali mikro-XRF előnye a kézi műszerrel szemben a nagyobb intenzitás, jobban kontrollált mérési geometria, illetve az, hogy a besugárzó röntgennyaláb fókuszálható, így akár 20 µm átmérőjű pontonként is végezhetünk mérést. Ezenfelül vákuumkamrája lehetővé teszi a könnyűelemek detektálását is. A kézi XRF előnye, hogy akár terepen is alkalmazható kis mérete, egyszerű és gyors működése miatt. Előadásunkban e két készülék összehasonlítását mutatjuk be analitikai teljesítményük szempontjából. A vizsgálathoz komplex összetételű üveg standardokat (Corning A, B, D, NIST 610, 611, 612, 614), valamint obszidiánt használtunk.

Megosztás

Keresés

✕

Aktuális

  • Hidden behind the mask: An authentication study on the Aztec mask of the Museum of Ethnography, Budapest, Hungary
  • Creating Histories: Different Perspectives, Controversial Narratives at Rákóczifalva, an Early Copper Age Site on the Great Hungarian Plain
  • Spatial Distribution of Air Pollution, Hotspots and Sources in an Urban-Industrial Area in the Lisbon Metropolitan Area, Portugal—A Biomonitoring Approach

Kategóriák

  • Dolgozatok
  • Eredmény kommunikációs kiadvány
  • Folyóirat publikáció
  • GINOP
  • Interjú
  • Ismeretterjesztő előadás
  • Konferencia
  • Örökségtudomány
  • Poszter
  • Press
  • Publikáció
  • Roll-up
  • Sajtóközlemény
  • Szakmai előadás
  • Tájékoztató tábla
  • Tréning
  • Uncategorized @hu
Facebook Pagelike Widget
Copyright © 2023 Atomki – Minden jog fenntartva!
  • angol
  • Magyar