A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) képalkotási elve, hogy a minta felületét pontról-pontra haladva folyamatosan képezi le egy nagyon kis térrészre fókuszált elektronnyalábbal. Az elektronok kölcsönhatásba lépnek a minta anyagával, az így keletkező különféle jeleket detektálva információt kapunk a minta topográfiájáról és összetételéről.

Az Örökségtudományi Laboratórium Jeol pásztázó elektronmikroszkópja alkalmas képalkotásra szekunder elektron, visszaszórt elektron, valamint katódlumineszcens detektorral, Raman detektorral, továbbá elemösszetétel megállapítására EDS detektorral. A hagyományos SEM készülékekkel ellentétben, ahol csak vezető felületű mintákat lehet vizsgálni, ez a berendezés alkalmas szigetelő minták vizsgálatára előzetesen a felszínre felvitt arany vagy szén réteg nélkül is az alacsony vákuum módnak köszönhetően. Régészeti mintáknál az elemösszetétel, illetve elemeloszlás meghatározásán túl fontos információt adhat a felület megmunkálását illetően is

A Raman-spektroszkópia a rezgési spektrum segítségével nyújt információt a molekulákban lévő funkciós csoportok típusáról, helyzetéről és orientációjáról. Jellegzetes Raman-spektrumuk alapján a vegyületek azonosíthatók. A Raman-mikroszkóp a kuturális örökség tárgyainak vizsgálatán túl alkalmas biológiai (növényi és állati eredetű minták, kenetek), geológiai (kőzetek, ásványok és csiszolataik) valamint ipari (fémötvözetek, gyógyszerkészítmények) elemzésére is.

Az Örökségtudományi Laboratóriumban található Raman-mikroszkóp a Renishaw vállalat korszerű berendezése. Fókuszkövetési technológiájával a mikroszkóp egyenetlen, görbe vagy érdes felületű mintákat is képes elemezni. Külső egységgel a pásztázó elektronmikroszkóphoz (SEM) csatlakoztatva a SEM mérésekkel egyidőben és azonos ponton vehetünk fel Raman-spektrumot.