A kulturális örökség tárgyainak vizsgálatánál első lépés az optikai képalkotás. Erre a célra egy digitális 3D mikroszkóp beszerzése van tervbe véve, amely a tárgyon lévő struktúrák méreteiről is kvantitatív információt nyújt, nemcsak horizontális, hanem vertikális skálán is, ami nagy segítséget nyújt pl. vésetek vagy kiemelkedő díszítő elemek mélységének, illetve vastagságának a meghatározásában.

Az Atomkiban jelenleg alkalmazott gyorsítós elemanalitikát kiválóan egészíti ki a beszerzendő mikro-XRF berendezés (XRF: röntgenfluoreszcencia), mivel a vizsgálandó tárgytól és a meghatározandó elemektől függően vagy az egyik, vagy a másik vizsgálati módszer az optimális. A kulturális örökség tárgyainál gyakran lényeges szempont, hogy az alkalmazott technika roncsolásmentes legyen. A nanoskálán is informatív hagyományos elektronmikroszkópia ezért sokszor nem használható.

A beszerezni kívánt pásztázó elektronmikroszkóp (SEM: scanning electron microscope) kamrájában változtatható lesz a nyomás, így vákuumra érzékeny, illetve szigetelő minták natív vizsgálatára is alkalmas lesz. A berendezés egy beépített Raman-mikroszkópot is tartalmazni fog, így korrelatív mikroszkópiára alkalmas SEM-Raman mikroszkópként is lehet majd használni.