Atomki_HSLab_logoAtomki_HSLab_logoAtomki_HSLab_logoAtomki_HSLab_logo
  • Home
  • Laboratory
    • About HUN-REN ATOMKI
    • HSLAB
      • Ion Beam Analytical Group
    • Heritage Science
    • H2020 IPERION CH
    • Infrastructure
    • Partnership
    • People
    • Publications
      • Periodical publication
      • Professional presentation
      • Educational lecture
      • Thesis, TDK topics
      • Poster
    • Contact
  • Events
  • GINOP
    • Objectives
    • Publicity
    • Public procurement
  • Magyar
✕

Kézi és asztali XRF készülékek analitikai teljesítményének szisztematikus vizsgálata

PROFESSIONAL PRESENTATION

Előadók: Csepregi Ákos, Döncző Boglárka, Kertész Zsófia, Szikszai Zita
Kézi és asztali XRF készülékek analitikai teljesítményének szisztematikus vizsgálata

Esemény megnevezése: Mobil eszközök az archeometriai kutatásokban – Archeometriai Műhely vitaülés

Időpont: 2020 február 24.

Helyszín: Magyar Nemzeti Múzeum

Összefoglaló:

A röntgenfluoreszcencia-analízis (XRF) egy gyors, sokelemes analitikai módszer, amelyet széles körben alkalmaznak kulturális és természeti örökségünk tárgyainak vizsgálatára. A módszer roncsolásmentes, kontaktmentes, viszont információs mélysége limitált, így elsősorban a minta felületéről ad információt. Analitikai teljesítményét a módszer alapjául szolgáló fizikai folyamatok, a készülék paraméterei, a mérések kiértékelésének módja, illetve a minta tulajdonságai befolyásolják.

Az Atommagkutató Intézetben korábban sok éven át végeztek XRF vizsgálatokat múzeumi tárgyakon, később a saját mérőelrendezésen alapuló technika hátrébb szorult.  A kereskedelmi forgalomban kapható készülékek fejlődése és térnyerése miatt időszerűvé vált, hogy az intézet Örökségtudományi Laboratóriumában a részecske indukált röntgen-emisszió (PIXE) mellett a minták XRF-fel történő vizsgálatára is legyen lehetőség. Laborunk asztali mikro-XRF (M4 TORNADO, Bruker Nano GmbH, Berlin, Németország), valamint kézi XRF (S1 TITAN 600, Bruker Nano GmbH, Berlin, Németország) készülékekkel rendelkezik.

Az asztali mikro-XRF előnye a kézi műszerrel szemben a nagyobb intenzitás, jobban kontrollált mérési geometria, illetve az, hogy a besugárzó röntgennyaláb fókuszálható, így akár 20 µm átmérőjű pontonként is végezhetünk mérést. Ezenfelül vákuumkamrája lehetővé teszi a könnyűelemek detektálását is. A kézi XRF előnye, hogy akár terepen is alkalmazható kis mérete, egyszerű és gyors működése miatt. Előadásunkban e két készülék összehasonlítását mutatjuk be analitikai teljesítményük szempontjából. A vizsgálathoz komplex összetételű üveg standardokat (Corning A, B, D, NIST 610, 611, 612, 614), valamint obszidiánt használtunk.éter (a képen, MTA BTK Régészeti Intézet) ismertette ezüsttárgyakon végzett méréseink eredményeit.

Megosztás
Facebook Pagelike Widget
Copyright © 2020 Atomki – Minden jog fenntartva!
  • English
  • Hungarian